CNRS Institut Néel

Microscope Electronique à Balayage à effet de champ

 Microanalyse EDS-X (SDD) et EBSD

(Z115 - Poste : 70.66)

Microscope - Toutes les réservations
Jeudi 25 avril 2024

Créneau FESEM with EDX and EBSD analysis
07h00 - 08h00
08h00 - 08h30
08h30 - 09h00
09h00 - 10h30 Clement MONTEMBAULTIN-PLUM

Observation poudres
Etude : Observation
10h30 - 12h00 Clement MONTEMBAULTIN-PLUM

Observation poudres
Etude : Observation
12h00 - 13h00 Fidèle DIAMFABExtérieurs

Etude : Observation
13h00 - 13h30 Laurent CAGNONIN-QUEST

Etude : Observation
13h30 - 15h30 Dov DiamFABExtérieurs

Etude : Observation
15h30 - 17h00 KTA/KTPIN-PLUM

Etude : Observation
17h00 - 17h30 KTA/KTPIN-PLUM

Etude : Observation
17h30 - 18h30 KTA/KTPIN-PLUM

Etude : Observation
18h30 - 19h30 William RIGAUTIN-QUEST

DyCo-Pd full wafer
Etude : Observation
19h30 - Nuit William RIGAUTIN-QUEST

DyCo-Pd full wafer
Etude : Analyse EDX
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