Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
Microanalyse EDS-X (SDD) et EBSD
(Z115 - Poste : 70.66)
Créneau | FESEM with EDX and EBSD analysis
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07h00 - 08h00 | |
08h00 - 08h30 | |
08h30 - 09h00 | |
09h00 - 10h30 | Clement MONTEMBAULTIN-PLUM Observation poudres Etude : Observation |
10h30 - 12h00 | Clement MONTEMBAULTIN-PLUM Observation poudres Etude : Observation |
12h00 - 13h00 | Fidèle DIAMFABExtérieurs Etude : Observation |
13h00 - 13h30 | Laurent CAGNONIN-QUEST Etude : Observation |
13h30 - 15h30 | Dov DiamFABExtérieurs Etude : Observation |
15h30 - 17h00 | KTA/KTPIN-PLUM Etude : Observation |
17h00 - 17h30 | KTA/KTPIN-PLUM Etude : Observation |
17h30 - 18h30 | KTA/KTPIN-PLUM Etude : Observation |
18h30 - 19h30 | William RIGAUTIN-QUEST DyCo-Pd full wafer Etude : Observation |
19h30 - Nuit | William RIGAUTIN-QUEST DyCo-Pd full wafer Etude : Analyse EDX |