CNRS Institut Néel
Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
Microanalyse EDS-X (SDD) et EBSD
(Z115 - Poste : 70.66)
Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
Microanalyse EDS-X (SDD) et EBSD
(Z115 - Poste : 70.66)
| Créneau | FESEM with EDX and EBSD analysis
|
|---|---|
| 07h00 - 08h00 | |
| 08h00 - 08h30 | |
| 08h30 - 09h00 | |
| 09h00 - 10h30 | grr AdministrateurIN-PLUM Kinan Etude : Enseignement |
| 10h30 - 12h00 | Simon GUENE-GIRARDIN-PLUM Etude : Observation |
| 12h00 - 13h00 | Simon GUENE-GIRARDIN-PLUM Etude : Observation |
| 13h00 - 13h30 | grr AdministrateurMaintenances & Développement Etude : Maintenance et Développement |
| 13h30 - 15h30 | grr AdministrateurIN-PLUM Aude - Léa Etude : Analyse EDX |
| 15h30 - 17h00 | grr AdministrateurIN-PLUM Aude - Léa Etude : Analyse EDX |
| 17h00 - 17h30 | Raphael ROUSSET-ZENOUIN-PLUM Etude : Observation |
| 17h30 - 18h30 | Raphael ROUSSET-ZENOUIN-PLUM Etude : Observation |
| 18h30 - 19h30 | William RIGAUTIN-QUEST PrFeB-film Etude : Observation |
| 19h30 - Nuit | William RIGAUTIN-QUEST PrFeB-thin film Etude : Analyse EDX |
