CNRS Institut Néel
Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
Microanalyse EDS-X (SDD) et EBSD
(Z115 - Poste : 70.66)
Microscope Electronique à Balayage à effet de champ
Microanalyse EDS-X (SDD) et EBSD
(Z115 - Poste : 70.66)
| Créneau | FESEM with EDX and EBSD analysis
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| 07h00 - 08h00 | |
| 08h00 - 08h30 | |
| 08h30 - 09h00 | |
| 09h00 - 10h30 | manoel DiamFAB_JacqueminExtérieurs Etude : Observation |
| 10h30 - 12h00 | Xavier CattoenIN-PLUM Etude : Observation |
| 12h00 - 13h00 | |
| 13h00 - 13h30 | |
| 13h30 - 15h30 | MagREEsource-Luc PascalExtérieurs Etude : Observation |
| 15h30 - 17h00 | Obs AsGa Lou-AnneIN-MCBT Etude : Observation |
| 17h00 - 17h30 | Alexandra PenaIN-PLUM Etude : Observation |
| 17h30 - 18h30 | Yuan HONGIN-QUEST Etude : Analyse EDX |
| 18h30 - 19h30 | Yuan HONGIN-QUEST Etude : Analyse EDX |
| 19h30 - Nuit | Yuan HONGIN-QUEST Etude : Observation |
